可靠性百科 | 加速壽命試驗(yàn)
[ 來源：蓉矽半導(dǎo)體 時(shí)間：2023-02-24 閱讀：6548次 ]
何為“加速壽命試驗(yàn)”
加速壽命試驗(yàn)（Accelerated Life Testing，ALT）是通過加強(qiáng)應(yīng)力，并結(jié)合物理失效規(guī)律相關(guān)的統(tǒng)計(jì)模型，在短時(shí)間內(nèi)預(yù)測出產(chǎn)品在正常應(yīng)力下的壽命特征的一種試驗(yàn)方法。
常用的加速壽命試驗(yàn)類型
加速壽命試驗(yàn)的意義：
1）縮短壽命試驗(yàn)周期；
2）結(jié)果可用于電子產(chǎn)品可靠性評(píng)價(jià)、制定可靠性篩選依據(jù)；
3）結(jié)合失效分析，可以找到可靠性失效短板；
常用的加速應(yīng)力
加速試驗(yàn)中的應(yīng)力為廣義概念，包含產(chǎn)品壽命期內(nèi)對(duì)產(chǎn)品壽命造成影響的所有條件，常用的應(yīng)力有：
1）熱應(yīng)力（如溫度）；
2）電應(yīng)力（如電壓、電流、功率）；
3）濕應(yīng)力（如濕度）；
4）化學(xué)環(huán)境（如氣體濃度、鹽度）；
5）機(jī)械應(yīng)力（如振動(dòng)、摩擦、壓力、載荷、頻率）；
6）輻射。
截尾壽命
定義：一種將投試驗(yàn)品試驗(yàn)到部分失效就停止，并且通過已知的失效數(shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析推導(dǎo)出完整壽命分布的實(shí)驗(yàn)方法。
分類：定時(shí)截尾壽命試驗(yàn) & 定數(shù)截尾壽命試驗(yàn)
意義：縮短試驗(yàn)時(shí)間