信頼性百科事典|加速壽命試験
[ 出典：蓉矽半導(dǎo)體 更新時(shí)間：2023-02-24 閲覧數(shù)：1812 ]
「加速壽命試験」とは何ですか
加速壽命試験（Accelerated Life Testing，ALT）は、強(qiáng)いストレスを製品に與えることで、物理故障の統(tǒng)計(jì)モデルに加え、通常のストレス下での製品壽命特性を短時(shí)間で予測(cè)する試験方法です。
よく使われる加速壽命試験タイプ
加速壽命試験の重要性：
1．壽命試験周期を短縮します。
2．結(jié)果は、電子製品の信頼性評(píng)価と信頼性スクリーニング根拠の作成に使用できます。
3．故障分析に基づき、信頼性故障の欠點(diǎn)を見(jiàn)つけることができます。
よく使われる加速?gòu)炅?/span>
加速度試験の応力は、製品の壽命期間內(nèi)に影響を與えるすべての條件を含む幅広い概念です。一般的によく使用される応力は次のとおりです:
1．熱応力（溫度など）;
2．電気応力（電圧、電流、電力など）;
3．濕応力（濕度など）;
4．化學(xué)環(huán)境（ガス?jié)舛取c分濃度など）;
5．機(jī)械応力（振動(dòng)、摩擦、圧力、負(fù)荷、周波數(shù)など）;
6．放射
壽命審査試験
定義：供試品の試験を一部的に故障すると中止し、既知の故障データを通して統(tǒng)計(jì)分析を行い、完全の壽命狀況を推論する実験方法です。
分類：タイプI壽命試験とタイプII壽命試験
重要性：試験時(shí)間を短縮します
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SiC百科事典丨シリコンカーバイド結(jié)晶